1. materials и методы

the Точные химические композиции (в массы%) сплавов Hastelloy-x с 0 и 0,12 иттрием называются hx и hx-a, соответственно, и показаны в таблице 1. Эти два образца были построены в форме куба 45 × 45 × 45 мм с использованием машины EOS M290 (EOS, Robert-Stirling-ring 1, 82152, Krailling, Bavaria, Германия) в Защитная AR атмосфера с использованием Pre-alloyed Powders и одинаковых параметров обработки. Мы провели стандартную термообработку как для образцов HX, так и HX-a. Раствор термообработки (ST) проводили на 1177 ° C в течение 2 ч, а затем охлаждение воздуха до комнатной температуры

 

для теста ползучести, мы нарезали куб в ряд плит с толщиной 3,1 мм; Из этих плит образец испытаний ползучести были вырезаны с использованием машины для резки проводов Electro-discharch. Датчики размеров каждого образца составляли 19,6 × 2,8 × 3,0 мм. Мы провели тест на ползучее в условиях 900 ◦C/80 MPA. Образцы были отполированы с использованием SiC Emery Paper до 1200#, а затем алмазную пасту вверх до коллоидного диоксида кремния (0,5 мкм) с использованием автоматической полированной машины для полировки STRUERS (0,5 мкМ). Все образцы затем промывали этанолом в ультразвуковой ванне в течение 10 мин. Мы тратили образцы 20% фосфорной кислотой+80% водного раствора для наблюдения за границами расплавленного бассейна. Микроструктурное наблюдение проводилось с использованием оптического микроскопа (OM; Olympus Corp. Токио, Япония), сканирующего электронного микроскопа (SEM; Hitachi, Ltd., Токио, Япония), Energy-Dispersive Spectroscopy (EDS) (S-3700n типа EDS Оборудование, изготовленное Horiba Seisakusho Co., Ltd., Kyoto, Японии) и электронной микроскопии электронной эмиссии (Fe-sem) (JSM-7100, Jeol, Tokyo, Japan), прикрепленные к EDS (Edaxametex 9424). Image J Software (64-bit Java 1.8.0_172) использовалось для анализа измерений фракции трещины и пористости.

 

3. results

 n3.1.

microstructure наблюдение 3.1.1.-

as

built---figure 1 показывает hx и hx \\ Оптические микроструктуры Na образцов в As-Built. Все были изготовлены с использованием одинаковых параметров обработки. Образец HX-a показал больше трещин, чем HX (рис. 1А), поскольку образец HXa содержал дополнительные элементы Yttrium (y), которые не хватало образец HX. Осущемую точку состоит в том, что все трещины были параллельны направлению здания (BD) (рис. 1б). Фракции трещин для образцов HX и HX

a находятся на 1% и 5%, соответственно.

 

f--

f 

f--

f

 

f

----figure 2 показывает SEM микрофотографии как

Built образцы. При низком увеличении все образцы показали границы расплавленного бассейна и структуры затвердевания, такие как границы зерна и дендриты (рисунок 2А, B для Hx и фигура 2c, d для hx

a). Рисунок 2B показывает трещины при более высоком увеличении в образец HX. В обоих образцах трещины были образованы вдоль границы зерна и появились в межслойных регионах. 

\\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\nwe выполненных eds сопоставления сканов на трещинах образцов hx и hx \\na. Анализ EDS выявил карбиды SIC и образование W6C в образце HX (рис. 3а). В образе HX \\ Na, отображение EDS в трещине, показало образование YC (рисунок 3b) \\n \\n. \\ N \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\nfigure 4 показывает отображение EDS из HX \\ Na \\ NBuilt образца, который указывает на существование малых y оксида (YTTRIA) и частиц оксида Si (кремнезема) внутри зерна. Кристаллографические ориентационные ориентационные ориентационные ориентационные карты дифракции электронов (EBSD) обоих образцов в AS \\ NBuilt (фиг.5) выявили столбчатые зерна, ориентированные почти параллельно направлению здания. В образе HX некоторые зерна ориентированы в направлении, а некоторые находятся в направлении (рис. 5а). С другой стороны, зерна в образе внимания HX \\ Na несколько более тонкие и в основном ориентированы в направлении (рисунок 5b) \\n \\n. \\ N \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\n \\nn \\n \\n \\n \\n \\n